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藍寶石晶片表面缺陷測試儀

SD-300i用于測定藍寶石的表面缺陷,適用于科研、工業(yè)生產等需求。該儀器還是一臺半自動高精度定向儀,實現了缺陷和定向雙功能。





藍寶石晶片表面缺陷測試儀-產品特點:
 缺陷和定向雙功能
 配有射線窗口電磁光閘和可靠的射線防護罩,確保安全使用
 表格和曲線的形式顯示,一目了然
 速度快,重復性好
 效率高,數據實時處理





藍寶石晶片表面缺陷測試儀-技術參數:
 測試時間:1-2分鐘
 重復性精度:≤±5″。
 測角精度為±15″
 最小讀數1″





藍寶石晶片表面缺陷測試儀-典型客戶:
臺灣及國內藍寶石及半導體客戶廣泛應用。